導航
產(chǎn)品信息
| 型號 | 粒徑測量 | ZETA電位測量 | 分子量測量 | PH滴定測量 |
| ELSZ-2000ZS | ● | ● | ● | ●*1 |
| ELSZ-2000Z | ● | ● | - | ●*1 |
| ELSZ-2000S | ● | - | ● | ●*2 |
選型表
*1：需搭配選配件PH滴定儀 *2：需搭配選配件PH滴定儀和粒徑流動容器
特點
● 最新型號高靈敏度APD，提高靈敏度，縮短測量時間
● 通過自動溫度梯度測量可以進行變性、相變溫度分析
● 可以在0 ~ 90℃的寬溫度范圍內(nèi)進行測量
● 增加寬范圍分子量測定和分析功能
● 可對應渾濁的高濃度樣品的粒徑·ZETA電位測定
● 測量樣品池內(nèi)的電滲透流，通過圖譜分析提供高精度的ZETA電位測量結(jié)果
● 可對應高鹽濃度溶液的ZETA電位測定
● 可對應小尺寸固體樣品的ZETA電位測量
用途
非常適用于界面化學、無機物質(zhì)、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫(yī)學領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應用研究，不僅對應微小顆粒，還適用于薄膜和平板表面的科學研究。
● 新型功能材料領(lǐng)域
燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）
納米生物相關(guān)（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等。
● 陶瓷/著色材料工業(yè)領(lǐng)域
陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）
無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制
顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機顏料）
漿料狀樣品
濾光器
浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究
● 半導體領(lǐng)域
異物附著在硅晶片表面的原理解析
研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究
CMP漿料的相互作用
● 高分子聚合物/化工領(lǐng)域
乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫(yī)藥/工業(yè)）
聚電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能性研究、功能納米顆粒
紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究
● 制藥/食品工業(yè)領(lǐng)域
乳液（食品/香料/醫(yī)療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質(zhì)的機能性檢測
脂質(zhì)體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機能性檢測
原理
粒徑測量原理：動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）
分散在溶液中的粒子，因其布朗運動受到粒徑大小影響，當大粒子受到光照射時所得到的散射光變化較為緩和，而小粒子則較為劇烈。
通過光子相關(guān)法分析這種波動，可以求得粒徑和粒徑分布。
解析流程
由散射強度的時間分布得到自相關(guān)函數(shù)，經(jīng)過分析求得粒徑分布
混合樣品（不同的粒徑分布）可解析為如圖的粒徑分布
Zeta電位測量原理：電泳光散射法（激光多普勒法）
對溶液中的粒子施加電場時，可以觀察到粒子電荷所對應的電泳動。籍由此電泳速度可以求得ZETA電位及電泳移動度。
電泳散射法將光照射在泳動中的粒子上得到散射光，根據(jù)散射光的Doppler位移量求得電泳速度。
因此也被稱之為Laser Doppler法。
實測電滲流的優(yōu)點
測量ZETA電位時，在樣品池內(nèi)的粒子除了會泳動外，還會產(chǎn)生電滲流。
電滲流是指在樣品池內(nèi)壁面帶有負電荷時，溶液中的正離子會聚集于壁面附近。如施加電場時，壁面附近的正離子會往負離子電極方向移動，并在樣品池內(nèi)中央附近產(chǎn)生的一種對流現(xiàn)象。
ELSZ系列，可通過實測樣品池內(nèi)所觀察到的電子移動度來解析電滲流。
由于已充分考慮到樣品因附著與沉降會導致樣品池內(nèi)贓污，所以可以取得正確的靜止面位置，來求得真正的ZETA電位與電子移動率。
森·岡本公式
充分考慮電滲流后進行樣品池內(nèi)泳動速度的解析
電滲透流應用于多成分解析
ELSZ series通過實際測量樣品池內(nèi)多點觀察到的電泳移動度，可以確認測量數(shù)據(jù)內(nèi)ZETA電位分布的再現(xiàn)性及判定雜質(zhì)的波峰。
應用于固體平板樣品池
固體平板樣品池是將固體平板樣品緊密接觸于盒型石英樣品池上方而形成一體的構(gòu)造。
實測樣品池高度方向各層觀測粒子的電泳移動度，根據(jù)所得到的電滲流Profile可分析出固體表面電滲流速度，進而求得平板樣品表面的ZETA電位。
高濃度樣品的ZETA電位測定原理
對于光不易穿透的高濃度樣品或有色樣品，由于受到多重散射和吸收等影響，以往使用的ELS series很難測量到所需結(jié)果。
但現(xiàn)在，ELSZ series搭載的標準樣品池的測量范圍擴大，可測量稀溶液樣品乃至高濃度溶液樣品，并且，通過采用FST法*的高濃度樣品池可測量高濃度領(lǐng)域的ZETA電位。
Electrophoretic mobility measurement of concentrated suspension using orwardcattering through ransparent electrode
分子量測量原理（靜態(tài)光散射法）
眾所周知，靜態(tài)光散射法可以輕松測量絕對分子量。
測量原理為，將光線照射在溶液分子上可以得到散射光，根據(jù)散射光的絕對值求取分子量。即利用了大分子可得到強散射光，小分子可得到弱散射光的現(xiàn)象。
實際上，因為濃度不同散射光強度也不同，實測數(shù)點不同濃度溶液的光散射強度，代入以下公式繪制圖示。橫軸為濃度，縱軸為與散射強度Kc/R（θ）相等的倒數(shù)。此方法也被稱為Debye圖示法。
籍由往零濃度（C=0）外插的倒數(shù)求取分子量Mw，并以此初期梯度可求得第二維里系數(shù)A2。
分子量較大的分子，散射強度會因角度而不同。
分子量籍由測量不同散射角度（θ）的散射強度不但可提高測精度，也可獲得分子擴散指標值的回轉(zhuǎn)半徑。
以固定角度進行測量時，只要輸入推測的回轉(zhuǎn)半徑，角度將自行補正，可測量更高精度的分子量。
第二維里系數(shù)
表示溶媒中分子間的排斥與吸引程度，更易于觀察溶劑分子的相容性與結(jié)晶化現(xiàn)象。
●A2為正時，代表溶劑相容性高，分子間排斥力強，更加穩(wěn)定。
●A2為負時，代表溶劑相容性低，分子間吸引力強，易產(chǎn)生凝集。
●A2=0時，代表溶劑為理想溶劑，此時溫度被稱為理想溫度。排斥與吸引力處于平衡狀態(tài)，易產(chǎn)生結(jié)晶化。
產(chǎn)品規(guī)格
產(chǎn)品規(guī)格
| 測量原理 | 粒徑 | 動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法） |
| ZETA電位 | 電泳光散射法（激光多普勒法） | |
| 分子量 | 靜態(tài)光散射動法 | |
| 光學系統(tǒng) | 粒徑 | 零差光學系 |
| ZETA電位 | 外差光學系 | |
| 分子量 | 零差光學系 | |
| 光源 | 高功率半導體激光器 | |
| 探測器 | 高靈敏度APD | |
| 樣品池 | ZETA電位: 標準池、高濃度樣品池、微量可拋式池 | |
| 粒徑/分子量: 方形池 | ||
| 溫度 | 0~90度（帶梯度功能） | |
| 電源 | 220V±10%, 50/60Hz, 250VA | |
| 尺寸(WDH) | 380(W) X600(D) X210(H) | |
| 重量 | 約22Kg | |
測定項目
ZETA電位 | -200 ~ 200mV |
電氣移動度 | -2X10-5 ~ 2X10-5cm2/V·s |
粒徑 | 0.6nm ~ 10um |
分子量 | 360 ~ 2X107 |
測量范圍
| 測量溫度范圍 | 0 ~ 90℃ |
| 測量濃度范圍 | 粒徑: 0.00001%(0.1ppm) ~ 40%*1 |
| ZETA電位: 0.001% ~ 40% |
*1 （Latex112nm: 0.00001 ～ 10%、膽汁酸: ～ 40%）
